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テストクリップ

様々な用途に合わせたテストクリップをご用意しています。外れにくいフックタイプ、SMDデバイスに最適なグラバータイプ、簡単にアッセンブル出来るDIYタイプ、0.45mmピッチでも使用できるチャレンジャークリップ、高電圧でも安全に使用できるIEC準拠タイプまで幅広いセレクションです。


リード線付のテストクリップはテストリードのカテゴリでご紹介しています。
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  • フック・ピンサーテストクリップ

    先端がフック上になっているテストクリップです。しっかりと端子を挟んで測定が出来ます。
    ELECTRO PJP社のProシリーズ、POMONA社のグラバーシリーズがあります。

    いずれもリード線はお客様で取付けて頂くDIYタイプです。

  • SMDパーツ用テストクリップ

    SMD部品のリードをしっかり挟んで使えます。
    推奨リードピッチは最小で0.8mmまでです。

  • ファインピッチ テストクリップ

    リードピッチが0.25mm(リード中心間は0.45mm)でも使用できる、優れたテストクリップです。
    QFPデバイスのリードも難なくつかめます。
    クリップ先端が絶縁されており、薄型ボディーなので並べて使用することも可能。
    単体、便利なキット、どちらでも販売しています。

  • ミニテストクリップ

    0.8mmピッチまでのSMDデバイスのテストに最適なテストクリップです。
    薄型ボディーなので横に並べて使えます。ピンコンタクトにφ0.8mmのテストリードをさして使えます。
    先端はフレキシブルに曲がるので狭い場所にも柔軟に対応します。(稼働域は左右に36°ずつ)

  • ロングタイプテストクリップ

    手の届きにくい場所で使用するのに便利なロングタイプ。

    ELECTRO PJP社のロングタイプのテストクリップは先端がクリップ、フック、ワニ口タイプと三種類あります。
    Φ4mmバナナプラグを取り付けて使用出来ます。


    POMONA社のマキシグラバーはフックタイプでワイヤーを取付けて使用します。

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